三維表面測(cè)量儀功能與特性的描述

三維表面測(cè)量儀用國際**的光譜共焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面微米、次微米級(jí)粗糙度檢測(cè)，并且可以進(jìn)行2D輪廓/3D微觀形貌掃描分析，具有測(cè)量精度高，速度快，便于攜帶，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品，軟件功能含括了點(diǎn)測(cè)量、線測(cè)量、面測(cè)量以及編程等強(qiáng)大的功能，可選模塊包括2D&3D粗糙度檢測(cè)與分析、2D輪廓測(cè)量與3D形貌分析、平面度檢測(cè)、共面度檢測(cè)、平行度檢測(cè)。

三維表面測(cè)量儀功能與特性：

　　測(cè)量具有非破壞性，測(cè)量速度快，精度高；

　　測(cè)量范圍廣，可測(cè)透明、半透明、金屬材料、高漫反射、低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；

　　尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面，漫反射表面*大可達(dá)87度；

　　不受樣品反射率的影響；

　　不受環(huán)境光的影響；

　　測(cè)量簡單，樣品無需特殊處理；

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